Automatizované systémy pro testování elektronických obvodů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU54223" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU54223 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Automated test system for testing analog and digital ICs

Popis výsledku v původním jazyce

System design and function used for integrated circuits and ASIC prototype testing is described in follow-up paper. Designing system with a universal switching array and modules supporting available circuit packages makes this system adaptive for testingfunctions and parameters of most designed circuits.

Název v anglickém jazyce

Automated test system for testing analog and digital ICs

Popis výsledku anglicky

System design and function used for integrated circuits and ASIC prototype testing is described in follow-up paper. Designing system with a universal switching array and modules supporting available circuit packages makes this system adaptive for testingfunctions and parameters of most designed circuits.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Intensive Training Programme in Electronic System Design

ISBN

80-214-3042-7

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

132-136

Název nakladatele

Nakl. Novotný

Místo vydání

Chania

Místo konání akce

Chania, Crete, Greece

Datum konání akce

21. 9. 2005

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—