Testovací čip pro měření nelineárních kondenzátorů modifikovanou metodou CBCM
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APR22402" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PR22402 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Testovací čip pro měření nelineárních kondenzátorů modifikovanou metodou CBCM
Popis výsledku v původním jazyce
Testovací čip slouží k ověření modifikované metody CBCM sloužící k měření a charakterizaci nelineárních kondenzátorů. Naměřená data z 64 testovacích struktůr slouží k výzkumu nelineárních kondenzátorů a jejich linearizace.
Název v anglickém jazyce
Testchip for nonlinear capacitors measurement by modified CBCM
Popis výsledku anglicky
Testchip is used to verification modified CBCM for measurement and characterization of nonlinear capacitors. 64 structures measured data are used to research of nonlinear capacitors and linearization.
Klasifikace
Druh
X - Nezařazeno
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů