Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Vliv nabitých center na charakteristiky transportu v tenkovrstvových elektroluminiscenčních součástkách řízených střídavým proudem

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APU52401" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PU52401 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Influence of charged centers on transport characteristics of alternating current thin film electroluminescent devices

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Charged centers exist in the phosphor layer of common alternating current thin film electroluminescent devices. In this article, the electron scattering process by these centers is studied through phase shift analysis. The scattering rates in different cases are gained and compared with other important scattering processes. The electron transport process is simulated by means of the Monte Carlo method. Quantitative results about the influence of charged centers on electron kinetic energy are gained.

  • Název v anglickém jazyce

    Influence of charged centers on transport characteristics of alternating current thin film electroluminescent devices

  • Popis výsledku anglicky

    Charged centers exist in the phosphor layer of common alternating current thin film electroluminescent devices. In this article, the electron scattering process by these centers is studied through phase shift analysis. The scattering rates in different cases are gained and compared with other important scattering processes. The electron transport process is simulated by means of the Monte Carlo method. Quantitative results about the influence of charged centers on electron kinetic energy are gained.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Proceedings of SPIE

  • ISSN

    0277-786X

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    6018

  • Číslo periodika v rámci svazku

    6018

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    61-65

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus