Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Identifikace poruch v materiálech

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APU63340" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PU63340 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Identification of defects in materials

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In electrical impedance tomography (EIT) currents are applied through the electrodes attached on the surface of the object, and the resulting voltages are measured using the same or additional electrodes. Internal conductivity distribution is recalculated from the measured voltages and currents. The problem is very ill posed, and therefore, regularization has to be used. The aim is to reconstruct, as accurately as possible, the conductivity distribution in phantom using finite element method (FEM). In this paper are proposed variations of the regularization term, which are applied to non-destructive identification of defects (voids or cracks) in conductive material.

  • Název v anglickém jazyce

    Identification of defects in materials

  • Popis výsledku anglicky

    In electrical impedance tomography (EIT) currents are applied through the electrodes attached on the surface of the object, and the resulting voltages are measured using the same or additional electrodes. Internal conductivity distribution is recalculated from the measured voltages and currents. The problem is very ill posed, and therefore, regularization has to be used. The aim is to reconstruct, as accurately as possible, the conductivity distribution in phantom using finite element method (FEM). In this paper are proposed variations of the regularization term, which are applied to non-destructive identification of defects (voids or cracks) in conductive material.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the Internation Workshop ISEP-DTEE 2006

  • ISBN

    80-214-3250-0

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    35-36

  • Název nakladatele

    NEUVEDEN

  • Místo vydání

    NEUVEDEN

  • Místo konání akce

    L'Institut Supérieur d'Electronique de Pari

  • Datum konání akce

    3. 9. 2006

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku