Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Porovnání šumové diagnostiky s LBIC solárních článků

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU69126" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU69126 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Solar Cells Noise Diagnostic and LBIC Comparison

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Solar cells defects are diagnosed by LBIC characterization and noise spectrocopy. Low frequency noise is a more sensitive tool for analyzing of degradation phenomena, like electro migration and sort of brakdown. All type of noise - thermal, shot, generation, recombination and 1/f type on noise play a different role in reliabilty analysis. The correlation between noise and transport characteristic indicates possibility of this diagnostic tool. Therefore the noise spectroscopy and LBIC is a pair o f the very useful methods to provide a non-destructive charracterization on silicon semiconductor solar cells.

  • Název v anglickém jazyce

    Solar Cells Noise Diagnostic and LBIC Comparison

  • Popis výsledku anglicky

    Solar cells defects are diagnosed by LBIC characterization and noise spectrocopy. Low frequency noise is a more sensitive tool for analyzing of degradation phenomena, like electro migration and sort of brakdown. All type of noise - thermal, shot, generation, recombination and 1/f type on noise play a different role in reliabilty analysis. The correlation between noise and transport characteristic indicates possibility of this diagnostic tool. Therefore the noise spectroscopy and LBIC is a pair o f the very useful methods to provide a non-destructive charracterization on silicon semiconductor solar cells.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceeding of AIP

  • ISBN

    978-0-7354-0432-8

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    306-309

  • Název nakladatele

    AIP

  • Místo vydání

    Melville, New York

  • Místo konání akce

    Tokyo

  • Datum konání akce

    9. 9. 2007

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku