Výzkum diagnostických metod aplikovaných na solárních článcích

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU70166" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU70166 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26220/07:PU71140

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Development of diagnostic method applied on solar cells

Popis výsledku v původním jazyce

In this work it is possible to compare LBIC method with electroluminescence - preferences and deficiencies, mutual comparison. The LBIC (light beam induced current) method is generally used for detection of local defects in solar cells. But this method is too slow. The LBIC analysis is widely used as a universal method for detecting local defects in the solar cell structure. Scanning of the solar cell surface with a single point light source (laser or LED focused beam) could take several hours of processing time depending on the required picture resolution. The fast way of defect detection is the electroluminescence imaging (EL). In EL imaging a forward bias is applied to the finished solar cells. A higher contrast between the white and the black areais attained in consequence of uneven distribution of current density. All process steps can be scanned by a CCD camera.

Název v anglickém jazyce

Development of diagnostic method applied on solar cells

Popis výsledku anglicky

In this work it is possible to compare LBIC method with electroluminescence - preferences and deficiencies, mutual comparison. The LBIC (light beam induced current) method is generally used for detection of local defects in solar cells. But this method is too slow. The LBIC analysis is widely used as a universal method for detecting local defects in the solar cell structure. Scanning of the solar cell surface with a single point light source (laser or LED focused beam) could take several hours of processing time depending on the required picture resolution. The fast way of defect detection is the electroluminescence imaging (EL). In EL imaging a forward bias is applied to the finished solar cells. A higher contrast between the white and the black areais attained in consequence of uneven distribution of current density. All process steps can be scanned by a CCD camera.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GP102%2F05%2FP199" target="_blank" >GP102/05/P199: Nové metody nedestruktivního testování kvality kontaktů fotovoltaických článků</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

New trends in physics 2007

ISBN

978-80-7355-078-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

57-60

Název nakladatele

Neuveden

Místo vydání

Neuveden

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

15. 11. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—