Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU70338" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU70338 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Skenování materiálů lokální optickou sondou v blízkém poli

Popis výsledku v původním jazyce

V článku je popsán základní princip a možnosti mikroskopie se skenující lokální optickou sondou v blízkém poli. Je ukázáno spektrum fotoluminiscence kvantových teček InAs/GaAs, topografie a lokální odrazivost povrchu téhož vzorku. Vzhledem ke stejnému místu na povrchu vzorku při pořízení snímku topografie a lokální odrazivosti lze pozorovat korelaci mezi zmíněnými obrázky. Dále je předvedeno možné schéma mikroskopu pro měření lokální fotoluminiscence s detekcí ve vzdáleném poli. Spektrum generované fotoluminiscence vzorku kvantových teček při buzení zeleným laserovým světlem o vlnové délce lambda= 488 nm je dominantní na vlnové délce 1325 nm při teplotě okolí 300 K.

Název v anglickém jazyce

Near-field local optical probe sample scanning

Popis výsledku anglicky

In this paper is described principle of near-field optical scanning microscope and using potentials for nondestructive testing. There is shown topography image, photoluminescence spectrum and local reflectance image of InAs/GaAs quantum dots sample. It is possible to see correlation between topography image and local reflectance image, because both image are taken from the same location of the sample surface. Detection of local photoluminescence is possible in far-field as is shown in idea scheme. Spectrum of quantum dots generated photoluminescence excited by green laser (lambda = 488 nm) has dominant wavelength 1325 nm (ambient temperature 300 K).

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F07%2F0113" target="_blank" >GA102/07/0113: Diagnostika Schottkyho a studenoemisních katod pomocí elektronického šumu</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

5th Workshop NDT 2007. Non-destructive testing in engineering practice

ISBN

978-80-7204-549-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

150-153

Název nakladatele

Brno University of Technology

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

28. 11. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—