Šumová diagnostika lokálních defektů solárních článků

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU70341" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU70341 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Noise diagnostics of local defects in solar cells
Popis výsledku v původním jazyce
This study deals with the use of noise for solar cells diagnostic purposes. When a high electric field is applied to a PN junction containing some technological imperfections, local breakdowns arises in micro-sized regions, which in turn can lead to thedeterioration in quality or destruction of the PN junction. It is therefore advisable to use methods which can indicate the presence of these regions in the junction and make the quality assessment and quantitative description of the tested cells possible.
Název v anglickém jazyce
Noise diagnostics of local defects in solar cells
Popis výsledku anglicky
This study deals with the use of noise for solar cells diagnostic purposes. When a high electric field is applied to a PN junction containing some technological imperfections, local breakdowns arises in micro-sized regions, which in turn can lead to thedeterioration in quality or destruction of the PN junction. It is therefore advisable to use methods which can indicate the presence of these regions in the junction and make the quality assessment and quantitative description of the tested cells possible.

Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostika elektronických součástek s PN přechodem pomocí šumu mikroplazmy</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)