Zařízení pro dynamické testování fotovoltaických solárních článků řízené počítačem PC

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU72130" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU72130 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
PC controled equipment for FAST TRANSIENTS TESTING OF SILICON SOLAR CELLS
Popis výsledku v původním jazyce
A simple method using fast transients has been suggested and demonstrated for the set of different quality photovoltaic cells. New approach uses PC controlled equipment. Cells parameters as the reverse breakdown voltage, depletion layer width and junction capacitance, serial and parallel resistance and lifetime of minority carriers in bulk can be taken easily. To suppress the influence of the depletion layer capacitance voltage bias was set by the dark current excitation.
Název v anglickém jazyce
PC controled equipment for FAST TRANSIENTS TESTING OF SILICON SOLAR CELLS
Popis výsledku anglicky
A simple method using fast transients has been suggested and demonstrated for the set of different quality photovoltaic cells. New approach uses PC controlled equipment. Cells parameters as the reverse breakdown voltage, depletion layer width and junction capacitance, serial and parallel resistance and lifetime of minority carriers in bulk can be taken easily. To suppress the influence of the depletion layer capacitance voltage bias was set by the dark current excitation.

Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)