Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APR23395" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PR23395 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Měření úzkopásmových šumových signálů solárních článků - UniNoise

Popis výsledku v původním jazyce

Jednou z možností jak získat informace o kvalitě pn přechodu nedestruktivní cestou je sledování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových zařízeních využívajících ke své činnosti pn přechod jako například usměrňovací diody, LED diody a solární články. Měření mikroplazmatického šumu pro měření solárních článků je relativně složité. Komplikace přinášejí především nízké úrovně měřených signálů, teplotní závislosti a velká náchylnost na rušení. Pro účely měření bylvyvinut obslužný software. Tento software nachází uplatnění tam kde je nezbytné precizní, rychlé a automatizované měření. Měření šumových proudů a VA charakteristik je prováděno současně a řeší tak problém s teplotní závislostí vzorku.

Název v anglickém jazyce

Narrowband noise measurement of solar cell - UniNoise

Popis výsledku anglicky

One way how we can get information about PN junction quality in non-destructive diagnostics is microplasma noise observation. The microplasma noise typically occurs in semiconductor devices with a PN junction e.g. silicon diodes, LED diodes (GaAsP) and solar cells. Microplasma noise measurement for studding the solar cells is quite difficult. A complication arises because of low level signal, temperature dependence and electromagnetic interference. For measurement purposes has been developed operating software. This software finds use where is essential precise and high speed automatic measurement. The noise current dependence of the reverse voltage and relationship with VA characteristics may be observed simultaneously.

Druh

R - Software

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostika elektronických součástek s PN přechodem pomocí šumu mikroplazmy</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Interní identifikační kód produktu

UniNoise v.2.47

Technické parametry

Automatizovaný software, podporované komunikační rozhranní RS-232 a IEEE488 (GPIB), automatický sběr dat, využívá softwarový PID pro stabilizaci napětí na solárním článku, přehledové sledování měřených charakteristik, archivace a

Ekonomické parametry

—

IČO vlastníka výsledku

00216305

Název vlastníka

Ústav fyziky