Metodika měření šumu solárních článků

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU70070" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU70070 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Metodika měření šumu solárních článků

Popis výsledku v původním jazyce

Jednou z cest jak můžeme získat informace o kvalitě PN přechodu nedestruktivní metodou je pozorování mikroplazmatického šumu. Mikroplazmatický šum se typicky vyskytuje v polovodičových součástkách s PN přechody jako například diody, LED diody a solární články. Použití měření mikroplazmatického šumu pro studium solárních článků je ukázáno v tom to článku. Budou popisovány závislosti šumového proudu na závěrném napětí a souvislosti s VA charakteristikami. Dalším sledovaným parametrem mikroplazmatického šumu jsou statistické charakteristiky trvání impulzů a jejich vzájemného rozestupu. Z těchto charakteristik můžeme následně získat součinitele g a r popisující dvoustavový generačně rekombinační proces.

Název v anglickém jazyce

Solar cell noise measurement methodology

Popis výsledku anglicky

One way how we can get information about PN junction quality in non-destructive diagnostics is microplasma noise observation. The microplasma noise typically occurs in semiconductor devices with a PN junction e.g. silicon diodes, LED diodes (GaAsP) and solar cells. Usage of the microplasma noise measurement for studding the solar cells is shown in this paper. The noise current dependence of the reverse voltage and relationship with VA characteristics may be observed. One of the parameter in view of themicroplasma noise is statistical characteristics of impulse time duration and impulse time separation. Coefficients g and r characterizing two-state stochastic generation-recombination type process may be obtained from the statistical characteristics.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostika elektronických součástek s PN přechodem pomocí šumu mikroplazmy</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Elektronika a informatika 2007

ISBN

978-80-7043-572-4

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

45-48

Název nakladatele

Západočeská univerzita v Plzni

Místo vydání

Plzeň

Místo konání akce

Nečtiny

Datum konání akce

31. 10. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—