Souvislost mezi teplotou a pruchodem proudu skrz defektni oblast

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU76446" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU76446 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Behavior of Temperature Inside PN Junction During Microplasma Switching

Popis výsledku v původním jazyce

The contribution is focused on determination of a temperature inside PN junction defect regions. These defect regions are called microplasmas. The microplasma is specified like region with a lower strong-field avalanche ionization breakdown voltage thanother homogenous PN junction regions [1]. The existence of such regions may lead to local avalanche breakdowns occurring in reverse-biased PN junction at certain voltage. These local avalanche breakdowns may exhibit like a current impulse noise. These impulses are usually represented by constant amplitude, random pulse width and random pulse origin time points. During the measurement of the microplasma noise was observed a relation between two-states current impulse noise and a temperature of a PN junction defect region. The main goal of this article is a determination of temperature behavior inside the microplasma region depends on a current impulse noise time behavior.

Název v anglickém jazyce

Behavior of Temperature Inside PN Junction During Microplasma Switching

Popis výsledku anglicky

The contribution is focused on determination of a temperature inside PN junction defect regions. These defect regions are called microplasmas. The microplasma is specified like region with a lower strong-field avalanche ionization breakdown voltage thanother homogenous PN junction regions [1]. The existence of such regions may lead to local avalanche breakdowns occurring in reverse-biased PN junction at certain voltage. These local avalanche breakdowns may exhibit like a current impulse noise. These impulses are usually represented by constant amplitude, random pulse width and random pulse origin time points. During the measurement of the microplasma noise was observed a relation between two-states current impulse noise and a temperature of a PN junction defect region. The main goal of this article is a determination of temperature behavior inside the microplasma region depends on a current impulse noise time behavior.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostika elektronických součástek s PN přechodem pomocí šumu mikroplazmy</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Reliability and Life-time Prediction

ISBN

978-963-06-4915-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

Zsolt Illyefalvi-Vitez

Místo vydání

Budapest, Hungary

Místo konání akce

Budapest

Datum konání akce

7. 5. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—