Použití statistických charakteristik šumu mikroplazmy k studiu ohřevu PN přechodu v okolí defektní oblasti

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU76330" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU76330 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Application of Microplasma Noise Statistical Characteristics to Studying the PN Junction Heating in the Neighbourhood of Local Defects

Popis výsledku v původním jazyce

Local avalanche breakdowns take place in the neighbourhood of PN junction local defects at sufficiently high reverse voltage. These breakdowns give rise to microplasma noise which is often characterized by current impulses whose inception time and duration time are random. The effective cross-section of the microplasma region being rather small, the current density may achieve a high value, which in turn can result in local heating of the micro-region and, consequently, the junction destruction. The present paper deals with the effect of the temperature on statistical characterics of microplasma noise. This effect is intended to be used for the local defect temperature determination based on these characteristic measurement results.

Název v anglickém jazyce

Application of Microplasma Noise Statistical Characteristics to Studying the PN Junction Heating in the Neighbourhood of Local Defects

Popis výsledku anglicky

Local avalanche breakdowns take place in the neighbourhood of PN junction local defects at sufficiently high reverse voltage. These breakdowns give rise to microplasma noise which is often characterized by current impulses whose inception time and duration time are random. The effective cross-section of the microplasma region being rather small, the current density may achieve a high value, which in turn can result in local heating of the micro-region and, consequently, the junction destruction. The present paper deals with the effect of the temperature on statistical characterics of microplasma noise. This effect is intended to be used for the local defect temperature determination based on these characteristic measurement results.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostika elektronických součástek s PN přechodem pomocí šumu mikroplazmy</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

WSEAS Transactions on Electronics

ISSN

1109-9445

e-ISSN

—

Svazek periodika

4

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—