Elektrická odezva na lokální optické buzení křemíkových solárních článků

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU74268" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU74268 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Local light to electric energy conversion measurement of silicon solar cells

Popis výsledku v původním jazyce

The paper is focused on non-destructive detection of structural errors, and on local illumination to electric energy conversion measurement in the solar cell using a near-field optical scanning microscope (SNOM). The principal objective of this study isto find out a relationship between surface or structure errors and defects observed in electric characteristics of solar cell samples. The defects and local mechanical damage of Si solar cell can result in lower light to electric energy conversion efficiency. The influence of surface scratching on reverse I-V characteristics of single-crystal silicon solar cell is also presented. The topography measurement, local surface reflection and local light to electric energy conversion measurement in areas damaged by a scratch are also provided.

Název v anglickém jazyce

Local light to electric energy conversion measurement of silicon solar cells

Popis výsledku anglicky

The paper is focused on non-destructive detection of structural errors, and on local illumination to electric energy conversion measurement in the solar cell using a near-field optical scanning microscope (SNOM). The principal objective of this study isto find out a relationship between surface or structure errors and defects observed in electric characteristics of solar cell samples. The defects and local mechanical damage of Si solar cell can result in lower light to electric energy conversion efficiency. The influence of surface scratching on reverse I-V characteristics of single-crystal silicon solar cell is also presented. The topography measurement, local surface reflection and local light to electric energy conversion measurement in areas damaged by a scratch are also provided.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F08%2F1474" target="_blank" >GA102/08/1474: Lokální optická a elektrická charakterizace optoelektronických struktur s nanometrickým rozlišením</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Reliability and Life-time Prediction, Conference Proceedings

ISBN

978-963-06-4915-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

Zsolt Illyefalvi-Vitéz, Bálint Balogh

Místo vydání

Hungary, Budapest

Místo konání akce

Budapest

Datum konání akce

7. 5. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—