Detekce defektů v solárních článcích pomocí nedestruktivních metod - abstrakt

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU76466" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU76466 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Detekce defektů v solárních článcích pomocí nedestruktivních metod - abstrakt

Popis výsledku v původním jazyce

Tato práce se zabývá analýzou různých tipů defektů v solárních článcích. Několik diagnostických metod, jako je například LBIC, Elektroluminiscence nebo Fotoluminiscence, jsou zde porovnány. První detekční metodou je LBIC, která je používána jako universální metoda detekce lokálních defektů nejen ve struktuře solárních článků. Vybavení měřicího pracoviště této metody umožňuje jednoduchou výměnu světelného zdroje. Za světelný zdroj jsou zde zvoleny různé vlnové délky LED zaostřené pomocí speciálního přípravku. Výhodou těchto zdrojů světla je jejich dlouhá životnost a nízké náklady. Různé vlnové délky penetrují v odlišných hloubkách struktury solárního článku a zobrazují tak objemové a povrchové defekty. Elektroluminiscenční a fotoluminiscenční zobrazeníjsou kvalifikovány jako mnohem rychlejší detekční metody. Při EL zobrazení je vzorek zapojen v propustném směru a metoda je použita na dokončený solá

Název v anglickém jazyce

Defect detection in solar cells due to nondestructive methods

Popis výsledku anglicky

We would like to show compare diagnostic LBIC method with electroluminescence - preferences and deficiencies, mutual comparison. The LBIC analysis is widely used as a universal method for detecting local defects in the solar cell structure. Scanning of the solar cell surface with a single point light source (laser or LED focused beam) could take several hours of processing time depending on the required picture resolution. Light Beam Induced Current (LBIC) works on principle of exposure very small areaof a solar cell, usually by laser beam focused directly on the solar cell surface. This point light source moves over measured solar cell in direction of both X and Y axis. Thanks to local current response the XY current distribution in investigated solar cell can be measured. The faster way of defect detection is the electroluminescence imaging (EL). In EL imaging a forward bias is applied to the finished solar cells. A higher contrast between the white and the black area is attained in

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

3. Česká fotovoltaická konference, Sborník abstraktů

ISBN

978-80-254-3528-1

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

1

Strana od-do

—

Název nakladatele

Neuveden

Místo vydání

Rožnov p.R.

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

3. 11. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—