Detekce defektů v solárních článcích pomocí nedestruktivních metod
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU77962" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU77962 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Detekce defektů v solárních článcích pomocí nedestruktivních metod
Popis výsledku v původním jazyce
Tato práce se zabývá analýzou různých tipů defektů v solárních článcích. Několik diagnostických metod, jako je například LBIC, Elektroluminiscence nebo Fotoluminiscence, jsou zde porovnány. První detekční metodou je LBIC, která je používána jako universální metoda detekce lokálních defektů nejen ve struktuře solárních článků. Vybavení měřicího pracoviště této metody umožňuje jednoduchou výměnu světelného zdroje. Za světelný zdroj jsou zde zvoleny různé vlnové délky LED zaostřené pomocí speciálního přípravku. Výhodou těchto zdrojů světla je jejich dlouhá životnost a nízké náklady. Různé vlnové délky penetrují v odlišných hloubkách struktury solárního článku a zobrazují tak objemové a povrchové defekty. Elektroluminiscenční a fotoluminiscenční zobrazeníjsou kvalifikovány jako mnohem rychlejší detekční metody. Při EL zobrazení je vzorek zapojen v propustném směru a metoda je použita na dokončený solá
Název v anglickém jazyce
Defect detection in solar cells due to nondestructive methods
Popis výsledku anglicky
We would like to show compare diagnostic LBIC method with electroluminescence - preferences and deficiencies, mutual comparison. The LBIC analysis is widely used as a universal method for detecting local defects in the solar cell structure. Scanning of the solar cell surface with a single point light source (laser or LED focused beam) could take several hours of processing time depending on the required picture resolution. Light Beam Induced Current (LBIC) works on principle of exposure very small areaof a solar cell, usually by laser beam focused directly on the solar cell surface. This point light source moves over measured solar cell in direction of both X and Y axis. Thanks to local current response the XY current distribution in investigated solar cell can be measured. The faster way of defect detection is the electroluminescence imaging (EL). In EL imaging a forward bias is applied to the finished solar cells. A higher contrast between the white and the black area is attained in
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
3. Česká fotovoltaická konference, Sborník příspěvků
ISBN
978-80-254-3528-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
—
Název nakladatele
Neuveden
Místo vydání
Rožnov p.R.
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
3. 11. 2008
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—