Generace mikroplazmy v solárních článcích

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU78799" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU78799 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

GENERATION AND BEHAVIOR MICROPLASMA IN SOLAR CELL

Popis výsledku v původním jazyce

This sheet deals with detection of generation and behavior of microplasma in solar cell. The generation of microplasma is influenced by several factors. The first of them is defected silicon crystal-grid causing nonhomogeneity of parameters that, in turn, creates visible defect. The second is dislocation of PN junction. At places where junction is thinner or mechanically damaged, the microplasma discharge and emission of light is present. Another sign of observed microplasma is noise, which has random spectrum in frequency range. Microplasma noise is measurable even before the creation of light emissions. That provides a way to obtain information about microplasma creation with exiguous reverse voltage. Voltage needed for observation of microplasma highly depends on solar cell area and reverse voltage. The whole process is observed with a special CCD camera in a dark special cryogenic box. CCD camera G2-3200 with low noise Kodak chip KAF-3200ME is used for measuring. Keywords: solar ce

Název v anglickém jazyce

GENERATION AND BEHAVIOR MICROPLASMA IN SOLAR CELL

Popis výsledku anglicky

This sheet deals with detection of generation and behavior of microplasma in solar cell. The generation of microplasma is influenced by several factors. The first of them is defected silicon crystal-grid causing nonhomogeneity of parameters that, in turn, creates visible defect. The second is dislocation of PN junction. At places where junction is thinner or mechanically damaged, the microplasma discharge and emission of light is present. Another sign of observed microplasma is noise, which has random spectrum in frequency range. Microplasma noise is measurable even before the creation of light emissions. That provides a way to obtain information about microplasma creation with exiguous reverse voltage. Voltage needed for observation of microplasma highly depends on solar cell area and reverse voltage. The whole process is observed with a special CCD camera in a dark special cryogenic box. CCD camera G2-3200 with low noise Kodak chip KAF-3200ME is used for measuring. Keywords: solar ce

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

23rd European Photovoltaic Solar Energy Conference, 1-5 September 2008, Valencia, Spain

ISBN

3-936338-24-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

—

Název nakladatele

Neuveden

Místo vydání

Neuveden

Místo konání akce

Valencie

Datum konání akce

1. 9. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—