Analýza zdrojů mikroplazmy a šumová spektroskopie

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU75405" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU75405 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Microplasma noise sources and noise spectroscopy analyzing

Popis výsledku v původním jazyce

This paper deals with comparisons of noise spectroscopy and detection of microplasma noise sources in the three new type of solar cells G1, G3 and G5. When high electric is applied to PN junction with some technological imperfections like dislocation inPN junction or crystal-grid defect causing non-homogeneity of parameters it produces in tiny areas of enhanced impact ionization called microplasma. It can leads onwards to deterioration in quality or to destruction of PN junction. Microplasma produced noise, which has random spectrum in frequency range. Microplasma noise is measurable even before the creation of light emissions. Due to the comparisons microplasma detection with noise characteristic can full analyzed solar cell.

Název v anglickém jazyce

Microplasma noise sources and noise spectroscopy analyzing

Popis výsledku anglicky

This paper deals with comparisons of noise spectroscopy and detection of microplasma noise sources in the three new type of solar cells G1, G3 and G5. When high electric is applied to PN junction with some technological imperfections like dislocation inPN junction or crystal-grid defect causing non-homogeneity of parameters it produces in tiny areas of enhanced impact ionization called microplasma. It can leads onwards to deterioration in quality or to destruction of PN junction. Microplasma produced noise, which has random spectrum in frequency range. Microplasma noise is measurable even before the creation of light emissions. Due to the comparisons microplasma detection with noise characteristic can full analyzed solar cell.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

EDS 08 IMAPS CS INTERNATIONAL CONFERENCE PROCEEDINGS

ISBN

978-80-214-3717-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

—

Název nakladatele

Vysoké učení technické v Brně

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

10. 9. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—