Noise diagnostics of solar cells
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU93358" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU93358 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Noise diagnostics of solar cells
Popis výsledku v původním jazyce
PN junction is one of the most important parts of solar cells. Its quality affects lifetime and efficiency of solar cells. Local defects which appear in PN junctions during the manufacture process are very important from this point of view. Measuring method of narrow-band noise current RMS value with reverse bias junction were used in this paper. This method allows detection of local defects and volume degradation in PN junctions of solar cells and it can be used for detection of microplasma noise.
Název v anglickém jazyce
Noise diagnostics of solar cells
Popis výsledku anglicky
PN junction is one of the most important parts of solar cells. Its quality affects lifetime and efficiency of solar cells. Local defects which appear in PN junctions during the manufacture process are very important from this point of view. Measuring method of narrow-band noise current RMS value with reverse bias junction were used in this paper. This method allows detection of local defects and volume degradation in PN junctions of solar cells and it can be used for detection of microplasma noise.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GAP102%2F10%2F2013" target="_blank" >GAP102/10/2013: Fluktuační procesy v PN přechodech solárních článků</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the 17th conference STUDENT EEICT 2010 volume 3
ISBN
978-80-214-4273-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
366-370
Název nakladatele
VUT v Brně
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
28. 4. 2011
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—