Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Vizuální systém pro optickou detekci vad na transparentních materiálech

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU80694" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU80694 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Vizuální systém pro optickou detekci vad na transparentních materiálech

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Článek pojednává o kamerovém systému pro automatizovanou detekci vad na potravinářských lahvích. Popsán je jak řídicí systém inspekčního stroje, tak i programové vybavení, zejména algoritmické zpracování obrazu s cílem detekce vizuálních vad na lahvích.Míra složitosti a rychlosti algoritmů je dána kompromisními požadavky na rychlost průmyslové linky a současným výskytem množiny vysoce variabilních vad. Proto je kromě základních algoritmů popsán i algoritmus rozpoznání typu nehomogenity a jeho vliv na celkovou úspěšnost třídícího procesu.

  • Název v anglickém jazyce

    Visual system for contactless defects detection on transparent materials

  • Popis výsledku anglicky

    Article deals about vision system intended for automated defects detection on transparent materials. Control system of inspection machine, software and especially image processing algorithms are described below. Complexity and rapidity of suggested algorithms are given by two compro-mise requirements: first one is production line speed, second is effectiveness of defects detection and both must be naturally high. Due to high variability of defects and synthetic patterns, pattern recognition method is described additional to standard basic algorithms. Pattern recognition method, based on moment invariants, allows to distinguishing between factual defects and synthetic patterns.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JB - Senzory, čidla, měření a regulace

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/1M0567" target="_blank" >1M0567: Centrum aplikované kybernetiky</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Výrobné inžinierstvo

  • ISSN

    1335-7972

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    8

  • Číslo periodika v rámci svazku

    2

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus