Dielectric relaxation spectroscopy as a tool for investigation of dielectric thin films and fabrication method thereof for microcapacitor integration

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU81089" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU81089 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Dielectric relaxation spectroscopy as a tool for investigation of dielectric thin films and fabrication method thereof for microcapacitor integration

Popis výsledku v původním jazyce

Dielectric relaxation spectroscopy (DRS) is a powerful tool for the investigation of materials. DRS is based on the measurement and evaluation of the response of electric dipoles, either induced or permanent, and weakly bound electric charges to the application of external electric field. In the present research, we would like to apply the DRS for the study of physical and electrical properties of dielectric thin films. The important properties of dielectric materials, as dielectric contant and dielectric lossoften vary as temperature or frequence varies. Thus the operation range for applications varies accordingly.

Název v anglickém jazyce

Dielectric relaxation spectroscopy as a tool for investigation of dielectric thin films and fabrication method thereof for microcapacitor integration

Popis výsledku anglicky

Dielectric relaxation spectroscopy (DRS) is a powerful tool for the investigation of materials. DRS is based on the measurement and evaluation of the response of electric dipoles, either induced or permanent, and weakly bound electric charges to the application of external electric field. In the present research, we would like to apply the DRS for the study of physical and electrical properties of dielectric thin films. The important properties of dielectric materials, as dielectric contant and dielectric lossoften vary as temperature or frequence varies. Thus the operation range for applications varies accordingly.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of IEEE Workshop Králíky 2009

ISBN

978-80-214-3938-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

Novapres

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Králíky

Datum konání akce

31. 8. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—