Dielectric Relaxation Spectroscopy as a Tool for The Investigation of Thin Oxide Layers
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU82502" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU82502 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Dielectric Relaxation Spectroscopy as a Tool for The Investigation of Thin Oxide Layers
Popis výsledku v původním jazyce
Dielectric Relaxation Spectroscopy (DRS) is a powerful tool for the investigation of materials. DRS is based on the measurement and evaluation of the response of electric dipoles, either induced or permanent, and weakly bound electric charges, to the application of external electric field. The main information that can be extracted from the DRS is related to the molecular dynamics of dipole or loosely attached charge carriers. Therefore, DRS finds application in those fields where mobility of individualmolecules, segments of molecules or separate chemical bonds or changes in chemical composition is involved - monitoring of hardening or swelling processes, analysis of glass transition, applications in degradation and ageing of materials based on disappearance or emergence of dipoles and charge-carriers. In the present research, we would like to apply the DRS for the study of thin oxide layers on noble metals. Current experimental equipment available in the Department of Physics, allowi
Název v anglickém jazyce
Dielectric Relaxation Spectroscopy as a Tool for The Investigation of Thin Oxide Layers
Popis výsledku anglicky
Dielectric Relaxation Spectroscopy (DRS) is a powerful tool for the investigation of materials. DRS is based on the measurement and evaluation of the response of electric dipoles, either induced or permanent, and weakly bound electric charges, to the application of external electric field. The main information that can be extracted from the DRS is related to the molecular dynamics of dipole or loosely attached charge carriers. Therefore, DRS finds application in those fields where mobility of individualmolecules, segments of molecules or separate chemical bonds or changes in chemical composition is involved - monitoring of hardening or swelling processes, analysis of glass transition, applications in degradation and ageing of materials based on disappearance or emergence of dipoles and charge-carriers. In the present research, we would like to apply the DRS for the study of thin oxide layers on noble metals. Current experimental equipment available in the Department of Physics, allowi
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Physics of Materials 2009
ISBN
978-80-8086-122-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
FEI TU Košiče
Místo vydání
Košice, SLovenská republika
Místo konání akce
Košice
Datum konání akce
14. 10. 2009
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—