Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Dielectric Relaxation Spectroscopy as a Tool for The Investigation of Thin Oxide Layers

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU82502" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU82502 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Dielectric Relaxation Spectroscopy as a Tool for The Investigation of Thin Oxide Layers

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Dielectric Relaxation Spectroscopy (DRS) is a powerful tool for the investigation of materials. DRS is based on the measurement and evaluation of the response of electric dipoles, either induced or permanent, and weakly bound electric charges, to the application of external electric field. The main information that can be extracted from the DRS is related to the molecular dynamics of dipole or loosely attached charge carriers. Therefore, DRS finds application in those fields where mobility of individualmolecules, segments of molecules or separate chemical bonds or changes in chemical composition is involved - monitoring of hardening or swelling processes, analysis of glass transition, applications in degradation and ageing of materials based on disappearance or emergence of dipoles and charge-carriers. In the present research, we would like to apply the DRS for the study of thin oxide layers on noble metals. Current experimental equipment available in the Department of Physics, allowi

  • Název v anglickém jazyce

    Dielectric Relaxation Spectroscopy as a Tool for The Investigation of Thin Oxide Layers

  • Popis výsledku anglicky

    Dielectric Relaxation Spectroscopy (DRS) is a powerful tool for the investigation of materials. DRS is based on the measurement and evaluation of the response of electric dipoles, either induced or permanent, and weakly bound electric charges, to the application of external electric field. The main information that can be extracted from the DRS is related to the molecular dynamics of dipole or loosely attached charge carriers. Therefore, DRS finds application in those fields where mobility of individualmolecules, segments of molecules or separate chemical bonds or changes in chemical composition is involved - monitoring of hardening or swelling processes, analysis of glass transition, applications in degradation and ageing of materials based on disappearance or emergence of dipoles and charge-carriers. In the present research, we would like to apply the DRS for the study of thin oxide layers on noble metals. Current experimental equipment available in the Department of Physics, allowi

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Physics of Materials 2009

  • ISBN

    978-80-8086-122-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    FEI TU Košiče

  • Místo vydání

    Košice, SLovenská republika

  • Místo konání akce

    Košice

  • Datum konání akce

    14. 10. 2009

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku