Lokální vyzařování ze závěrně polarizovaných solárních článků

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F10%3APU85300" target="_blank" >RIV/00216305:26220/10:PU85300 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Lokální vyzařování ze závěrně polarizovaných solárních článků
Popis výsledku v původním jazyce
Práce se zabývá nedestruktivní charakterizací monokrystalických křemíkových solárních článků a metodikou měření lokálního vyzařování ze závěrně polarizovaného pn přechodu. Jsou prezentovány naměřené výsledky lokálního vyzařování ve viditelné oblasti spektra ze závěrně polarizovaných solárních monokrystalických křemíkových článků. Z výsledků měření je zřejmé, že ne všechny zářivé body mají souvislost s šumem mikroplasmatu.
Název v anglickém jazyce
Local emision from reverse-biased solar cells
Popis výsledku anglicky
The work deals with non-destructive characterization of monocrystalline silicon solar cells and with methodology of measuring of local emissions from reverse-biased pn junction. Measured results of local radiation in the visible spectrum of reverse-biased monocrystalline silicon solar cells are presented. Results of measurements show that not all of shining spots are associated with microplasma noise.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F08%2F1474" target="_blank" >GA102/08/1474: Lokální optická a elektrická charakterizace optoelektronických struktur s nanometrickým rozlišením</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)