Scintillation secondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F10%3APU86601" target="_blank" >RIV/00216305:26220/10:PU86601 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Scintillation secondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope

Popis výsledku v původním jazyce

This work deals with optimalization of the electrode system of the experimental secondary electron detector for variable pressure sem for different pressure of vater vapours in the specimen chamber.

Název v anglickém jazyce

Scintillation secondary electron detector for variable pressure scanning electron microscope

Popis výsledku anglicky

This work deals with optimalization of the electrode system of the experimental secondary electron detector for variable pressure sem for different pressure of vater vapours in the specimen chamber.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 16th conference student EEICT 2010

ISBN

978-80-214-4079-1

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

250

Strana od-do

—

Název nakladatele

Neuveden

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

FEKT VUT v Brně

Datum konání akce

29. 4. 2010

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—