Testování analogových obvodů

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F10%3APU88904" target="_blank" >RIV/00216305:26220/10:PU88904 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Testování analogových obvodů
Popis výsledku v původním jazyce
V příspěvku jsou shrnuty základní teoretické předpoklady pro testování analogových obvodů metodou s více testovacími kmitočty. Volba vhodných testovacích kmitočtů je stěžejní podmínkou funkčnosti této metody a doposud nebyla pořádně objasněna. V příspěvku je dále demonstrováno jednoduché kritérium volby testovacích kmitočtů pro kmitočtové filtry typu pásmová propust.
Název v anglickém jazyce
Testing analog circuits
Popis výsledku anglicky
The paper discusses the basic theoretical assumptions of parametric fault analysis and the selection of an appropriate set of test frequencies in the multifrequency parametric fault diagnosis of band-pass filters.

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Sborník příspěvků semináře k řešení projektu GD102/08/H027
ISBN
978-80-214-4190-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
Ústav radioelektroniky FEKT VUT
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
16. 11. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)