Implementation of diagnostics functions in the IGBT drivers, part 1. Diagnostics

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU93486" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU93486 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Implementation of diagnostics functions in the IGBT drivers, part 1. Diagnostics

Popis výsledku v původním jazyce

The paper deals with possibilities of power IGBT transistor diagnostics directly in driver of voltage source inverters. It is necessary to implement the diagnostics circuits as close as possible to the power IGBT transistor due to high demands on drive reliability and failure predictability in many applications. Possibilities of diagnostics quantities measurements are discussed in the paper. The measurements of transistor chip temperature, voltage overshoot size, off-state voltage, on-state saturation voltage, measurement of inverter output current, gate charge measurement and driver secondary side supply voltages are discussed. Possibilities of IGBT diagnosis and IGBT technical state based on measured data are also discussed. The paper also proposes some hardware solutions for obtaining mentioned information and methods of using measured data in IGBT downgrading progress monitoring, failure prediction and drive maintenance planning.

Název v anglickém jazyce

Implementation of diagnostics functions in the IGBT drivers, part 1. Diagnostics

Popis výsledku anglicky

The paper deals with possibilities of power IGBT transistor diagnostics directly in driver of voltage source inverters. It is necessary to implement the diagnostics circuits as close as possible to the power IGBT transistor due to high demands on drive reliability and failure predictability in many applications. Possibilities of diagnostics quantities measurements are discussed in the paper. The measurements of transistor chip temperature, voltage overshoot size, off-state voltage, on-state saturation voltage, measurement of inverter output current, gate charge measurement and driver secondary side supply voltages are discussed. Possibilities of IGBT diagnosis and IGBT technical state based on measured data are also discussed. The paper also proposes some hardware solutions for obtaining mentioned information and methods of using measured data in IGBT downgrading progress monitoring, failure prediction and drive maintenance planning.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 8th IEEE Symposium on Diagnostics for Electrical Machines, Power Electronics & Drives

ISBN

978-1-4244-9302-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

1-4

Název nakladatele

Neuveden

Místo vydání

Bologna, IT

Místo konání akce

Bologna

Datum konání akce

5. 9. 2011

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—