Contribution to characterization of interdigital capacitors

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU93595" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU93595 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Contribution to characterization of interdigital capacitors
Popis výsledku v původním jazyce
This article deals with characterization of thick film interdigital capacitors, where attention is devoted to the influence of air gap width on capacitance. Air gap serves as dielectric and the scope of interest is dependence of the capacitance on air gap width.The set of interdigital capacitors was created with different air gap width.These capacitors were measured and result is evaluated in this article.
Název v anglickém jazyce
Contribution to characterization of interdigital capacitors
Popis výsledku anglicky
This article deals with characterization of thick film interdigital capacitors, where attention is devoted to the influence of air gap width on capacitance. Air gap serves as dielectric and the scope of interest is dependence of the capacitance on air gap width.The set of interdigital capacitors was created with different air gap width.These capacitors were measured and result is evaluated in this article.

Projekt
<a href="/cs/project/FR-TI1%2F072" target="_blank" >FR-TI1/072: Aplikace moderních montážních technologií a materiálů v elektrotechnickém průmyslu</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)