Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Parametric Fault Diagnosis using Overdetermined System of Fault Equations

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU93708" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU93708 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Parametric Fault Diagnosis using Overdetermined System of Fault Equations

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The paper shows a procedure for testing linear analog circuits using multi-frequency parametric fault diagnosis. Some methods for test frequency selection determine the total number of test frequencies equal to the total number of tested network parameters. The error between actual and estimated network parameters is evaluated only on several frequencies while the rest of the frequency band of the circuit is not taken into account. A new approach based on an overdetermined system of fault equations which can dramatically reduce the total error of the solution is presented. A practical example of application is shown on the test frequency selection of an EMI filter.

  • Název v anglickém jazyce

    Parametric Fault Diagnosis using Overdetermined System of Fault Equations

  • Popis výsledku anglicky

    The paper shows a procedure for testing linear analog circuits using multi-frequency parametric fault diagnosis. Some methods for test frequency selection determine the total number of test frequencies equal to the total number of tested network parameters. The error between actual and estimated network parameters is evaluated only on several frequencies while the rest of the frequency band of the circuit is not taken into account. A new approach based on an overdetermined system of fault equations which can dramatically reduce the total error of the solution is presented. A practical example of application is shown on the test frequency selection of an EMI filter.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the International IEEE Conference COMCAS 2011

  • ISBN

    978-1-4577-1692-8

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    1-4

  • Název nakladatele

    Neuveden

  • Místo vydání

    Israel

  • Místo konání akce

    Tel Aviv

  • Datum konání akce

    7. 11. 2011

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku