TEMPERATURE AND FREQUENCY DEPENDENCE OF COMPLEX PERMITTIVITY FOR NIOBIUM OXIDE FILM AT COMMERCIAL ELECTROLYTIC CAPACITOR

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU104334" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU104334 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

TEMPERATURE AND FREQUENCY DEPENDENCE OF COMPLEX PERMITTIVITY FOR NIOBIUM OXIDE FILM AT COMMERCIAL ELECTROLYTIC CAPACITOR

Popis výsledku v původním jazyce

The complex permittivity of thin oxide film at commercial niobium oxide capacitor was measured at different temperature range 218-373 K by using Janis cryostat system, with HP 4284A impedance analyzer with frequencies from 20 Hz to 1MHz. The real part ofcomplex permittivity increases with temperature and decreases with frequency, the imaginary part of complex permittivity displays abroad maximum peak whose position shifts with temperature to a higher frequency region with an activation energy 0.055 eV.The measured imaginary parts of complex permittivity were studied by the graphical analysis of the obtained data as proposed by Havriliak -Negami (HN) equation.

Název v anglickém jazyce

TEMPERATURE AND FREQUENCY DEPENDENCE OF COMPLEX PERMITTIVITY FOR NIOBIUM OXIDE FILM AT COMMERCIAL ELECTROLYTIC CAPACITOR

Popis výsledku anglicky

The complex permittivity of thin oxide film at commercial niobium oxide capacitor was measured at different temperature range 218-373 K by using Janis cryostat system, with HP 4284A impedance analyzer with frequencies from 20 Hz to 1MHz. The real part ofcomplex permittivity increases with temperature and decreases with frequency, the imaginary part of complex permittivity displays abroad maximum peak whose position shifts with temperature to a higher frequency region with an activation energy 0.055 eV.The measured imaginary parts of complex permittivity were studied by the graphical analysis of the obtained data as proposed by Havriliak -Negami (HN) equation.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the conference VSACKÝ CÁB 2012

ISBN

978-80-214-4579-6

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

4-7

Název nakladatele

FEKT VUT Brno

Místo vydání

VSACKÝ CÁB

Místo konání akce

Vsetín

Datum konání akce

29. 8. 2012

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—