Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Measurement methods for total ionising dose testing: in-situ versus standard practice

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU113731" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU113731 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Measurement methods for total ionising dose testing: in-situ versus standard practice

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The work presented here discusses two test methodologies for total ionising dose radiation testing of electronic components and ways in which common practice can be improved. Emphasis is given to modern, fully automated test solutions, using in-situ measurement methods. Results from pilot, proof-of-concept, experimental in-situ tests are also presented in this paper. These show that the in-situ method offers considerable advantages in terms of data fidelity and a much clearer understanding of the effects of radiation on the devices being tested.

  • Název v anglickém jazyce

    Measurement methods for total ionising dose testing: in-situ versus standard practice

  • Popis výsledku anglicky

    The work presented here discusses two test methodologies for total ionising dose radiation testing of electronic components and ways in which common practice can be improved. Emphasis is given to modern, fully automated test solutions, using in-situ measurement methods. Results from pilot, proof-of-concept, experimental in-situ tests are also presented in this paper. These show that the in-situ method offers considerable advantages in terms of data fidelity and a much clearer understanding of the effects of radiation on the devices being tested.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Radiation Effects Data Workshop (REDW), 2012 IEEE

  • ISBN

    978-1-4673-2730-5

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    1-4

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    Miami, FL, USA

  • Místo konání akce

    Miami, US

  • Datum konání akce

    16. 7. 2012

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku