Measurement methods for total ionising dose testing: in-situ versus standard practice
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU113731" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU113731 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Measurement methods for total ionising dose testing: in-situ versus standard practice
Popis výsledku v původním jazyce
The work presented here discusses two test methodologies for total ionising dose radiation testing of electronic components and ways in which common practice can be improved. Emphasis is given to modern, fully automated test solutions, using in-situ measurement methods. Results from pilot, proof-of-concept, experimental in-situ tests are also presented in this paper. These show that the in-situ method offers considerable advantages in terms of data fidelity and a much clearer understanding of the effects of radiation on the devices being tested.
Název v anglickém jazyce
Measurement methods for total ionising dose testing: in-situ versus standard practice
Popis výsledku anglicky
The work presented here discusses two test methodologies for total ionising dose radiation testing of electronic components and ways in which common practice can be improved. Emphasis is given to modern, fully automated test solutions, using in-situ measurement methods. Results from pilot, proof-of-concept, experimental in-situ tests are also presented in this paper. These show that the in-situ method offers considerable advantages in terms of data fidelity and a much clearer understanding of the effects of radiation on the devices being tested.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Radiation Effects Data Workshop (REDW), 2012 IEEE
ISBN
978-1-4673-2730-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
1-4
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Miami, FL, USA
Místo konání akce
Miami, US
Datum konání akce
16. 7. 2012
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—