Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Computing areas of pinched hysteresis loops of mem-systems in OrCAD PSPICE

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F13%3APU101057" target="_blank" >RIV/00216305:26220/13:PU101057 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/60162694:G43__/13:00479439

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Computing areas of pinched hysteresis loops of mem-systems in OrCAD PSPICE

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The pinched hysteresis loop belongs to the fingerprints of the so-called mem-systems, their well-known special cases being memristors. The memory effect of the system is determined by the area of the curve lobes which gradually decrease with increasing repeating frequency of the excitation signal. The paper describes a method for automated computation of the above areas via the commonly utilized OrCAD PSpice simulation software with the help of special measuring functions of the PROBE postprocessor. Theusefulness of the method is illustrated on an example of the analysis of a TiO2 memristor.

  • Název v anglickém jazyce

    Computing areas of pinched hysteresis loops of mem-systems in OrCAD PSPICE

  • Popis výsledku anglicky

    The pinched hysteresis loop belongs to the fingerprints of the so-called mem-systems, their well-known special cases being memristors. The memory effect of the system is determined by the area of the curve lobes which gradually decrease with increasing repeating frequency of the excitation signal. The paper describes a method for automated computation of the above areas via the commonly utilized OrCAD PSpice simulation software with the help of special measuring functions of the PROBE postprocessor. Theusefulness of the method is illustrated on an example of the analysis of a TiO2 memristor.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Mechanics and Materials

  • ISSN

    1660-9336

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    278-280

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    CH - Švýcarská konfederace

  • Počet stran výsledku

    10

  • Strana od-do

    1081-1090

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus