Study of the Influence of Structural Defects on Properties of Silicon Solar Cells
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F14%3APU107713" target="_blank" >RIV/00216305:26220/14:PU107713 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.592-593.449" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.592-593.449</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.592-593.449" target="_blank" >10.4028/www.scientific.net/KEM.592-593.449</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Study of the Influence of Structural Defects on Properties of Silicon Solar Cells
Popis výsledku v původním jazyce
Solar cells of common sizes contains many of these defects and it is not easy to determine the influence of particular defects on the characteristics of the whole solar cell. Therefore, in our research we use samples of size of square centimeter at which we can disentangle the influence of the defect. We localize the defect by using a CCD camera, we measure the electrical, thermal and optical properties of the sample and then study it by means an electron microscope, we find the damaged structure and put it to focused ion beam. We expect the change in electrical, thermal and optical properties of the sample.
Název v anglickém jazyce
Study of the Influence of Structural Defects on Properties of Silicon Solar Cells
Popis výsledku anglicky
Solar cells of common sizes contains many of these defects and it is not easy to determine the influence of particular defects on the characteristics of the whole solar cell. Therefore, in our research we use samples of size of square centimeter at which we can disentangle the influence of the defect. We localize the defect by using a CCD camera, we measure the electrical, thermal and optical properties of the sample and then study it by means an electron microscope, we find the damaged structure and put it to focused ion beam. We expect the change in electrical, thermal and optical properties of the sample.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Key Engineering Materials (print)
ISSN
1013-9826
e-ISSN
—
Svazek periodika
592-593
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
CH - Švýcarská konfederace
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
449-452
Kód UT WoS článku
000336694400100
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84891841934