Artifact removal by local extrema detection in images from electron microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F14%3APU110045" target="_blank" >RIV/00216305:26220/14:PU110045 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Artifact removal by local extrema detection in images from electron microscopy
Popis výsledku v původním jazyce
Processing of images from electron microscopy is important for a succesful analysis of acquired output. As with the majority of digital signals, these are plagued by various types of noise or artifacts. This paper concerns the detection and removal of artifacts created by sample contamination and the following reverse edge detection for displaying image segmentation.
Název v anglickém jazyce
Artifact removal by local extrema detection in images from electron microscopy
Popis výsledku anglicky
Processing of images from electron microscopy is important for a succesful analysis of acquired output. As with the majority of digital signals, these are plagued by various types of noise or artifacts. This paper concerns the detection and removal of artifacts created by sample contamination and the following reverse edge detection for displaying image segmentation.

Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
STUDENT EEICT, Proceedings of the 20th conference, Volume 3
ISBN
978-80-214-4922-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
31-35
Název nakladatele
LITERA
Místo vydání
Tábor 43a, 612 00, Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
24. 4. 2014
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)