Noise and optical spectroscopy of monocrystalline silicon solar cells

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F15%3APU114968" target="_blank" >RIV/00216305:26220/15:PU114968 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.elektrorevue.cz/" target="_blank" >http://www.elektrorevue.cz/</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

slovinština

Název v původním jazyce

Šumová a optická spektroskopia monokryštalických kremíkových solárnych c lánkov

Popis výsledku v původním jazyce

Šumová spektroskopia je vysoko citlivá metóda pre nedeštruktívnu diagnostiku polovodic ových zariadení. Táto metóda merania bola aplikovaná na kremíkové solárne články s výhľadom na zlepšenie ich spoľahlivosti a životnosti. Diagnostický prístup vychádzaz podmienky zapojenia solárneho článku v závernom smere, kedy jeho vnútorná štruktúra spolu s PN priechodom je vystavená silnému elektrickému pol u a defekty prítomné v štruktúre spôsobujú znac né lokálne namáhanie. V dôsledku toho sa objavia silné fluktuácie prúdu a tiež dochádza ku generovaniu šumov. Na meranie optického žiarenia emitovaného z lokálnych oblastí, v ktorých podl a nášho predpokladu dochádza ku generovaniu šumov, bola použitá vedecká CCD kamera s rozsahom vlnových dl?žok pre viditeľné ablízke infračervené spektrum.

Název v anglickém jazyce

Noise and optical spectroscopy of monocrystalline silicon solar cells

Popis výsledku anglicky

Noise spectroscopy is a highly sensitive method for non-destructive diagnostics of semiconductor devices. This method of measurement was applied to silicon solar cells with view for improving their reliability and durability. A diagnostic approach uses acondition of the reverse-biased connection of the solar cell, when internal structure along with PN junction is exposed to a strong electric field, and defects present in the structure cause significant local stress. Consequently, a strong current fluctuations appear and noise is generated. The measurement of optical radiation emitted from local regions where according to our assumption that noise is being generated, scientific CCD camera was used in wavelength range of the visible and near infrared spectrum.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Elektrorevue - Internetový časopis (http://www.elektrorevue.cz)

ISSN

1213-1539

e-ISSN

—

Svazek periodika

17

Číslo periodika v rámci svazku

4

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

136-142

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—