Investigation of solar cell performance studied by local breakdowns and related noise

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU99055" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU99055 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Investigation of solar cell performance studied by local breakdowns and related noise

Popis výsledku v původním jazyce

This paper will be dealt with the use of the electrical noise and the specific pn junction breakdowns for solar cells diagnostic purposes. Diffusion technology based pn junctions of the silicon solar cells have been investigated by measurement of electrical noise, transport characteristics and radiation of defect regions in the visible and deep infrared range. Due to the large surface to volume ratio solar cells contain lots of defects that determine the properties of the whole solar cells and introduceloss parameters. Our paper analyses in detail the issue of measuring the electrical noise and fluctuation activity correlated with the optical activity under reverse-biased conditions. Special affords in our research were devoted to finding relations between the specimen IV curves and the noise generated in consequence of the local but also semi-local defects in the solar cell structure.

Název v anglickém jazyce

Investigation of solar cell performance studied by local breakdowns and related noise

Popis výsledku anglicky

This paper will be dealt with the use of the electrical noise and the specific pn junction breakdowns for solar cells diagnostic purposes. Diffusion technology based pn junctions of the silicon solar cells have been investigated by measurement of electrical noise, transport characteristics and radiation of defect regions in the visible and deep infrared range. Due to the large surface to volume ratio solar cells contain lots of defects that determine the properties of the whole solar cells and introduceloss parameters. Our paper analyses in detail the issue of measuring the electrical noise and fluctuation activity correlated with the optical activity under reverse-biased conditions. Special affords in our research were devoted to finding relations between the specimen IV curves and the noise generated in consequence of the local but also semi-local defects in the solar cell structure.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Electronic Devices ans Systems 2012

ISBN

978-80-214-4539-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

267-272

Název nakladatele

VUT v Brně

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

28. 6. 2012

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—