Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Detection of Defects on BGA Solder Balls Using 2D and 3D Methods

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F15%3APU115765" target="_blank" >RIV/00216305:26220/15:PU115765 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/7247999" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/7247999</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE.2015.7247999" target="_blank" >10.1109/ISSE.2015.7247999</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Detection of Defects on BGA Solder Balls Using 2D and 3D Methods

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The paper is focused on non-destructive X-Ray method used for detection of defects on BGA solder balls. It is possible to use 2D or 3D methods with imaging of individual layers. 2D method is faster and it is used in daily basis. 3D method is less common and it is used for unique defects for further examination. This paper deals with using these methods especially throughout rework process.

  • Název v anglickém jazyce

    Detection of Defects on BGA Solder Balls Using 2D and 3D Methods

  • Popis výsledku anglicky

    The paper is focused on non-destructive X-Ray method used for detection of defects on BGA solder balls. It is possible to use 2D or 3D methods with imaging of individual layers. 2D method is faster and it is used in daily basis. 3D method is less common and it is used for unique defects for further examination. This paper deals with using these methods especially throughout rework process.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Novel Trends in Electronic Manufacturing - Book of Abstracts 38th International Spring Seminar on Electronics Technology

  • ISBN

    978-963-313-177-0

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    245-249

  • Název nakladatele

    Budapest University of Technology and Economics

  • Místo vydání

    Hungary

  • Místo konání akce

    Eger

  • Datum konání akce

    6. 5. 2015

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000374113000050