Low-Frequency Noise Quality Testing of Silicon Concentrator Photovoltaic Cell With Very High Efficiency
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F15%3APU116518" target="_blank" >RIV/00216305:26220/15:PU116518 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.4229/EUPVSEC20152015-5BV.4.25" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.4229/EUPVSEC20152015-5BV.4.25</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.4229/EUPVSEC20152015-5BV.4.25" target="_blank" >10.4229/EUPVSEC20152015-5BV.4.25</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Low-Frequency Noise Quality Testing of Silicon Concentrator Photovoltaic Cell With Very High Efficiency
Popis výsledku v původním jazyce
This paper deals with comparisons of noise spectroscopy and I-V characteristic of silicon concentrator photovoltaic (CPV) cell with very high efficiency. Efficiency reaches to 38%. We studied two groups with different technologies (A and B). Each group had 6 samples. The samples were quality screened using noise analysis. From the measurement results it follows that the noise spectral density related to defects is of 1/f or generationrecombination types. G-r noise and burst noise is not fundamental noise and therefore can by use as quality indicator. For the determination of a possible noise source there was used the microplasma detection method and ESEM displaying.
Název v anglickém jazyce
Low-Frequency Noise Quality Testing of Silicon Concentrator Photovoltaic Cell With Very High Efficiency
Popis výsledku anglicky
This paper deals with comparisons of noise spectroscopy and I-V characteristic of silicon concentrator photovoltaic (CPV) cell with very high efficiency. Efficiency reaches to 38%. We studied two groups with different technologies (A and B). Each group had 6 samples. The samples were quality screened using noise analysis. From the measurement results it follows that the noise spectral density related to defects is of 1/f or generationrecombination types. G-r noise and burst noise is not fundamental noise and therefore can by use as quality indicator. For the determination of a possible noise source there was used the microplasma detection method and ESEM displaying.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LO1210" target="_blank" >LO1210: Energie v podmínkách udržitelného rozvoje (EN-PUR)</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of 31st European PV Solar Energy Conference and Exhibition
ISBN
3-936338-39-6
ISSN
2196-0992
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
2449-2452
Název nakladatele
WIP
Místo vydání
Hamburg
Místo konání akce
Hamburg
Datum konání akce
14. 9. 2015
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—