Local electron-sample interaction during scanning electron microscopy on organic and metallic objects

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F16%3APU118942" target="_blank" >RIV/00216305:26220/16:PU118942 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Local electron-sample interaction during scanning electron microscopy on organic and metallic objects
Popis výsledku v původním jazyce
To ascertain how high energy of an electron is needed to acquire a sufficient data yield from organic and metallic sample, a Monte Carlo algorithm is used to compare the behaviour of electrons after contact with the material. Primary electron trajectory, elastic and inelastic scattering and secondary electron generation are described in this paper.
Název v anglickém jazyce
Local electron-sample interaction during scanning electron microscopy on organic and metallic objects
Popis výsledku anglicky
To ascertain how high energy of an electron is needed to acquire a sufficient data yield from organic and metallic sample, a Monte Carlo algorithm is used to compare the behaviour of electrons after contact with the material. Primary electron trajectory, elastic and inelastic scattering and secondary electron generation are described in this paper.

Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Student EEICT Proceedings of the 22nd Student Competition Conference
ISBN
978-80-214-5350-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
738-742
Název nakladatele
Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
28. 4. 2016
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)