Scanning Electron Microscopy With Slow Electrons

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00398028" target="_blank" >RIV/68081731:_____/13:00398028 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Scanning Electron Microscopy With Slow Electrons

Popis výsledku v původním jazyce

Scanning low energy electron microscopy (SLEEM) with a catode lens provides improved image resolution at low energies, an enhanced signal of secondary electrons, a completely collected signal of backscattered electron (BSE) including very low energy electrons that are traditionally abandoned, and plenty of contrast mechnism not available with fast incident electrons.

Název v anglickém jazyce

Scanning Electron Microscopy With Slow Electrons

Popis výsledku anglicky

Scanning low energy electron microscopy (SLEEM) with a catode lens provides improved image resolution at low energies, an enhanced signal of secondary electrons, a completely collected signal of backscattered electron (BSE) including very low energy electrons that are traditionally abandoned, and plenty of contrast mechnism not available with fast incident electrons.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microscopy and Microanalysis

ISSN

1431-9276

e-ISSN

—

Svazek periodika

19

Číslo periodika v rámci svazku

S2

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

372-373

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—