Analýza povrchového reliéfu solárních článků
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F16%3APU121370" target="_blank" >RIV/00216305:26220/16:PU121370 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://jmo.fzu.cz/" target="_blank" >http://jmo.fzu.cz/</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Analýza povrchového reliéfu solárních článků
Popis výsledku v původním jazyce
Tento článek se zabývá měřením a vyhodnocením mikro-geometrického reliéfu povrchu solárního článku. K měření povrchu byla využita rastrovací elektronová mikroskopie SEM (scanning electron microscopy) a mikroskopie atomárních sil AFM (atomic force microscopy). Metoda SEM umožňuje snímat velké plochy solárních článků se značnou drsností povrchu a metoda AFM byla použita na poměrně hladké plochy, nicméně se jednalo o skutečné 3D měření. Metody využívající snímací sondy se používají pro studium povrchů pevných látek. AFM umožňuje 3D mapování povrchového reliéfu a poskytuje kvantitativní informace o povrchu, dokáže charakterizovat jeho drsnost další morfologické charakteristiky, jako například zrnitost.
Název v anglickém jazyce
Topography characterization of solar cells
Popis výsledku anglicky
In this study we have used scanning electron microscopy and atomic force microscopy (SEM and AFM) for evaluation and measurement of solar cell surfaces micro-geometry. SEM allowed to study large areas of the solar cells with considerable surface roughness (more than 10µm) and AFM was carried out on relatively smooth areas, but is truly 3D measurement. Currently, probe methods are more applicable for studying solid materials surfaces. AFM is a 3D surface morphology technique that provides quantitative information about surfaces, and characterizes roughness of the surface, and sizes of morphological features, such as grains.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Svazek periodika
11-12
Číslo periodika v rámci svazku
61
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
275-276
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—