Multiscale experimental characterization of solar cell defects
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F16%3APU121468" target="_blank" >RIV/00216305:26220/16:PU121468 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2259884" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2259884</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2259884" target="_blank" >10.1117/12.2259884</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Multiscale experimental characterization of solar cell defects
Popis výsledku v původním jazyce
The search for alternative sources of renewable energy, including novel photovoltaics structures, is one of the principal tasks of 21th century development. In the field of photovoltaics three generations of solar cells of different structures going from monocrystalline silicon through thin-films to hybrid and organic cells, moreover using nanostructure features are used and studied. Due to the diversity of these structures, their complex study requires the multiscale interpretations bridging time and length scales from macroscale to the atomistic, but also multispectral investigation under different working temperatures. The multiscale study is generally applied to theoretical aspects, but more and more applied to experimental characterization. We investigate multiscale aspects of electrical, optical and material properties of solar cells under illumination and in dark conditions when an external bias is applied. We present the results of a research of the micron and sub-micron defects in a crystalline solar cell structure utilizing scanning probe microscopy and electric noise measurement.
Název v anglickém jazyce
Multiscale experimental characterization of solar cell defects
Popis výsledku anglicky
The search for alternative sources of renewable energy, including novel photovoltaics structures, is one of the principal tasks of 21th century development. In the field of photovoltaics three generations of solar cells of different structures going from monocrystalline silicon through thin-films to hybrid and organic cells, moreover using nanostructure features are used and studied. Due to the diversity of these structures, their complex study requires the multiscale interpretations bridging time and length scales from macroscale to the atomistic, but also multispectral investigation under different working temperatures. The multiscale study is generally applied to theoretical aspects, but more and more applied to experimental characterization. We investigate multiscale aspects of electrical, optical and material properties of solar cells under illumination and in dark conditions when an external bias is applied. We present the results of a research of the micron and sub-micron defects in a crystalline solar cell structure utilizing scanning probe microscopy and electric noise measurement.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
20th Slovak - Czech - Polish Optical Conference On Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics
ISBN
9781510607330
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
„101420U1“-„101420U7“
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Bellingham, USA
Místo konání akce
Jasná
Datum konání akce
5. 9. 2016
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000393152700029