Srovnání metod SEM a SPM pro charakterizaci solárních článků
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F17%3APU122989" target="_blank" >RIV/00216305:26220/17:PU122989 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://jmo.fzu.cz/" target="_blank" >http://jmo.fzu.cz/</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Srovnání metod SEM a SPM pro charakterizaci solárních článků
Popis výsledku v původním jazyce
Zvyšování kvality a účinnosti nových měřicích metod přispívá k pokročilé charakterizaci optoelektronických součástek a zařízení. Tyto metody využívají pro přesnější zkoumání vlastností struktur několik mikroskopických technik, které jsou založeny na fyzikálních principech ovlivněných nano a mikrorozměry zařízení. Tato studie porovnává možnosti SPM a SEM metod pro charakterizaci solárních článků. Metody SPM a SEM znázorňují povrchovou strukturu v mikro a nanoměřítku, atudíž jsou silným nástrojem nanotechnologie.
Název v anglickém jazyce
Comparison of SEM and SPM techniques for solar cells characterization
Popis výsledku anglicky
This study concerns the comparison of possibilities of SPM and SEM techniques for characterization of solar cells. Advanced characterization of optoelectronic devices demands several microscopy techniques based on different physical principles with nano- and micro-meter resolution in order to locate nanosize features of the device structure. SPM and SEM illustrate surface texturization at micro- and nano-scale, and thus are powerful instruments of nanotechnology.
Klasifikace
Druh
J<sub>ost</sub> - Ostatní články v recenzovaných periodicích
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0072" target="_blank" >ED2.1.00/03.0072: Centrum senzorických, informačních a komunikačních systémů (SIX)</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Svazek periodika
neuveden
Číslo periodika v rámci svazku
62
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
3
Strana od-do
81-83
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—