THE IMAGING OF A SCHOCK WAVE WITHIN A SUPERSONIC LOW-PRESSURE GAS FLOW USING OPTICAL METHODS
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F17%3APU123601" target="_blank" >RIV/00216305:26220/17:PU123601 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
THE IMAGING OF A SCHOCK WAVE WITHIN A SUPERSONIC LOW-PRESSURE GAS FLOW USING OPTICAL METHODS
Popis výsledku v původním jazyce
Using Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM), which uses high gas pressure within the specimen chamber instead of vacuum, allows us to study samples containing wa-ter, samples with high capacity and live biological samples. It is because of the lack of the need to freeze the sample to sublimate the water from it. However, the behavior of the pumped gas in low pressures is not well mapped to be the low-pressure gas flow simulations considered adequately precise for applying on ESEM. To increase the precision of simula-tions, it is possible to use optical methods for imaging the shock wave within the differential-ly pumped chamber because of its uniqueness.
Název v anglickém jazyce
THE IMAGING OF A SCHOCK WAVE WITHIN A SUPERSONIC LOW-PRESSURE GAS FLOW USING OPTICAL METHODS
Popis výsledku anglicky
Using Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM), which uses high gas pressure within the specimen chamber instead of vacuum, allows us to study samples containing wa-ter, samples with high capacity and live biological samples. It is because of the lack of the need to freeze the sample to sublimate the water from it. However, the behavior of the pumped gas in low pressures is not well mapped to be the low-pressure gas flow simulations considered adequately precise for applying on ESEM. To increase the precision of simula-tions, it is possible to use optical methods for imaging the shock wave within the differential-ly pumped chamber because of its uniqueness.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the 23rd Conference STUDENT EEICT 2017
ISBN
978-80-214-5496-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
501-505
Název nakladatele
Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
27. 4. 2017
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—