Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Study of Plant Waxes Using Low Temperature Method for ESEM

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F16%3A00465203" target="_blank" >RIV/68081731:_____/16:00465203 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/00216208:11310/16:10337586

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927616006747" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1017/S1431927616006747</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927616006747" target="_blank" >10.1017/S1431927616006747</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Study of Plant Waxes Using Low Temperature Method for ESEM

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A possibility to study biological samples in their native state, or even living organisms, using an environmental scanning electron microscope (ESEM) is of great importance for biologists. Sputter-free, electrically non-conductive and wet biological samples in their living and native state are observed using ESEM under conditions of high pressure water vapors that ranges from units to thousands of Pa in the ESEM specimen chamber. One of unwanted consequences of the electron beam-gas interaction is the electrons scattering that results in beam spot defocusing followed by the decrease of the detected signalto-noise ratio. This can be compensated by the reduction of beam electrons gas path length and scanning speed or by the increasing of the beam energy. The latter two parameters fundamentally enhance radiation damage of sensitive and soft native samples and represent a limiting factor for their observation using ESEM. This problem can be overcome by the use of special methods like Low Temperature Method for the ESEM (LTM), ideally in a combination with advanced low noise detectors with very high detection efficiencies.

  • Název v anglickém jazyce

    Study of Plant Waxes Using Low Temperature Method for ESEM

  • Popis výsledku anglicky

    A possibility to study biological samples in their native state, or even living organisms, using an environmental scanning electron microscope (ESEM) is of great importance for biologists. Sputter-free, electrically non-conductive and wet biological samples in their living and native state are observed using ESEM under conditions of high pressure water vapors that ranges from units to thousands of Pa in the ESEM specimen chamber. One of unwanted consequences of the electron beam-gas interaction is the electrons scattering that results in beam spot defocusing followed by the decrease of the detected signalto-noise ratio. This can be compensated by the reduction of beam electrons gas path length and scanning speed or by the increasing of the beam energy. The latter two parameters fundamentally enhance radiation damage of sensitive and soft native samples and represent a limiting factor for their observation using ESEM. This problem can be overcome by the use of special methods like Low Temperature Method for the ESEM (LTM), ideally in a combination with advanced low noise detectors with very high detection efficiencies.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Microscopy and Microanalysis

  • ISSN

    1431-9276

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    22

  • Číslo periodika v rámci svazku

    S3

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    1180-1181

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus