Scale-dependent Choice of Scanning Rate for AFM Measurements
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F18%3APU128466" target="_blank" >RIV/00216305:26220/18:PU128466 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://www.dpi-proceedings.com/index.php/dtcse/article/view/24197" target="_blank" >http://www.dpi-proceedings.com/index.php/dtcse/article/view/24197</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.12783/dtcse/cnai2018/24197" target="_blank" >10.12783/dtcse/cnai2018/24197</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Scale-dependent Choice of Scanning Rate for AFM Measurements
Popis výsledku v původním jazyce
Three samples with different high of topography features were measured at different scanning rate. We also presented statistical and fractal analyses for definition of the surface morphometrics. They can be used for calculation and evaluation of the images' distortion that takes place during scanning rate and proved to be helpful while controlling the measurement. Basing on the results we came to the conclusion that fractal analysis, the statistical surface roughness parameters and AFM may provide us with a deeper understanding of the physical phenomena taking place in the sample-tip interface. This is why, fractal analysis and statistical surface roughness parameters are useful information for the further improvement of calibration system. This approach can be applied for choosing scanning parameters properly, taking into consideration the geometry of the sample and for the microscope calibration by geometrical sizes of features
Název v anglickém jazyce
Scale-dependent Choice of Scanning Rate for AFM Measurements
Popis výsledku anglicky
Three samples with different high of topography features were measured at different scanning rate. We also presented statistical and fractal analyses for definition of the surface morphometrics. They can be used for calculation and evaluation of the images' distortion that takes place during scanning rate and proved to be helpful while controlling the measurement. Basing on the results we came to the conclusion that fractal analysis, the statistical surface roughness parameters and AFM may provide us with a deeper understanding of the physical phenomena taking place in the sample-tip interface. This is why, fractal analysis and statistical surface roughness parameters are useful information for the further improvement of calibration system. This approach can be applied for choosing scanning parameters properly, taking into consideration the geometry of the sample and for the microscope calibration by geometrical sizes of features
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20302 - Applied mechanics
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
DEStech Transactions on Computer Science and Engineering
ISBN
978-1-60595-065-5
ISSN
2475-8841
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
453-459
Název nakladatele
EStech Transactions on Computer Science and Engineering
Místo vydání
Neuveden
Místo konání akce
Beijing
Datum konání akce
22. 4. 2018
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000468589300071