Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Measurement and Optimization of an ECR Plasma Source

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F21%3APU145321" target="_blank" >RIV/00216305:26220/21:PU145321 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/9694823" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/9694823</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/PIERS53385.2021.9694823" target="_blank" >10.1109/PIERS53385.2021.9694823</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Measurement and Optimization of an ECR Plasma Source

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Electron cyclotron resonance (ECR) is a very common technique for various kinds of applications. Among others, it is widely used in the field of semiconductor or material industry, electron microscopy or plasmatic machining. This paper deals with an ECR source of plasma, which is used for ions generation. The plasma source uses the cyclotron resonance principle for Xenon gas ionization and efficient plasma generation. This technology is advantageous for selected application for several reasons, especially for a wide range of optimization options of the drive system. The used measurement methods are based on well-known information about the ion source and standard working conditions. Within this paper, we optimize the conditions to find out the best set of input parameters. The output of this experiment is a multidimensional map of the working conditions, essential to evaluate the dependences of variable working pressure, excitation energies and frequencies and to understand the consequences, arising from this complex measurement. The test environment is based on an electron microscope system, which is used for measuring and controlling all working conditions. Above that, an external high-frequency power source was used for plasma excitation. Such setup enables to set and tune all the parameters, collect measured information, and interpret them easily.

  • Název v anglickém jazyce

    Measurement and Optimization of an ECR Plasma Source

  • Popis výsledku anglicky

    Electron cyclotron resonance (ECR) is a very common technique for various kinds of applications. Among others, it is widely used in the field of semiconductor or material industry, electron microscopy or plasmatic machining. This paper deals with an ECR source of plasma, which is used for ions generation. The plasma source uses the cyclotron resonance principle for Xenon gas ionization and efficient plasma generation. This technology is advantageous for selected application for several reasons, especially for a wide range of optimization options of the drive system. The used measurement methods are based on well-known information about the ion source and standard working conditions. Within this paper, we optimize the conditions to find out the best set of input parameters. The output of this experiment is a multidimensional map of the working conditions, essential to evaluate the dependences of variable working pressure, excitation energies and frequencies and to understand the consequences, arising from this complex measurement. The test environment is based on an electron microscope system, which is used for measuring and controlling all working conditions. Above that, an external high-frequency power source was used for plasma excitation. Such setup enables to set and tune all the parameters, collect measured information, and interpret them easily.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20200 - Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2021

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2021 Photonics & Electromagnetics Research Symposium (PIERS)

  • ISBN

    978-1-7281-7247-7

  • ISSN

    1559-9450

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    358-361

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    NEW YORK

  • Místo konání akce

    Hangzhou, China

  • Datum konání akce

    21. 11. 2021

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000795902300052