An EMI susceptibility study of different integrated operational transconductance amplifiers
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F23%3APU144440" target="_blank" >RIV/00216305:26220/23:PU144440 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://iris.elf.stuba.sk/JEEEC/data/pdf/1_123-02.pdf" target="_blank" >http://iris.elf.stuba.sk/JEEEC/data/pdf/1_123-02.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.2478/jee-2023-0002" target="_blank" >10.2478/jee-2023-0002</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
An EMI susceptibility study of different integrated operational transconductance amplifiers
Popis výsledku v původním jazyce
This paper presents a comparative EMI susceptibility study of different integrated operational transconductance amplifier (OTA) topologies. We analyzed conventional well-known amplifier topologies based on the Miller OTA and folded cascode concepts with lower power consumption. The output dc voltage shifts induced by power supply and input common mode high frequency disturbances are presented. On top of the EMI susceptibility comparison, we discuss PSRR and CMRR within large and small excitation signal with a new simulation setup. Even more, the back-gate connections of differential MOS pair in OTA input stage are investigated for EMI susceptibility impact as well.
Název v anglickém jazyce
An EMI susceptibility study of different integrated operational transconductance amplifiers
Popis výsledku anglicky
This paper presents a comparative EMI susceptibility study of different integrated operational transconductance amplifier (OTA) topologies. We analyzed conventional well-known amplifier topologies based on the Miller OTA and folded cascode concepts with lower power consumption. The output dc voltage shifts induced by power supply and input common mode high frequency disturbances are presented. On top of the EMI susceptibility comparison, we discuss PSRR and CMRR within large and small excitation signal with a new simulation setup. Even more, the back-gate connections of differential MOS pair in OTA input stage are investigated for EMI susceptibility impact as well.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2023
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Electrical Engineering
ISSN
1335-3632
e-ISSN
1339-309X
Svazek periodika
74
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
SK - Slovenská republika
Počet stran výsledku
10
Strana od-do
13-22
Kód UT WoS článku
000945497500002
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85150204666