Normalized Testability Measures at RT Level: Utilization and Reasons for Creation

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F02%3APU36201" target="_blank" >RIV/00216305:26230/02:PU36201 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Normalized Testability Measures at RT Level: Utilization and Reasons for Creation
Popis výsledku v původním jazyce
The paper deals with a design overview of special-property factors for testability valuation of a digital circuit at RT level. The reasons for development of such factors and a way of their utilization are presented in this paper. Then, mathematical formulas are used to demonstrate these factors in a formal way and finally experimental results are presented.
Název v anglickém jazyce
Normalized Testability Measures at RT Level: Utilization and Reasons for Creation
Popis výsledku anglicky
The paper deals with a design overview of special-property factors for testability valuation of a digital circuit at RT level. The reasons for development of such factors and a way of their utilization are presented in this paper. Then, mathematical formulas are used to demonstrate these factors in a formal way and finally experimental results are presented.

Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proceedings of 36th International Conference MOSIS`02 Modeling and Simulation of Systems
ISBN
80-85988-71-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
297-304
Název nakladatele
Neuveden
Místo vydání
Ostrava
Místo konání akce
Rožnov pod Radhoštěm
Datum konání akce
22. 4. 2002
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)