Automatické objevení benchmarkových obvodů na úrovni RT s požadovanými parametry testovatelnosti
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F05%3APU56423" target="_blank" >RIV/00216305:26230/05:PU56423 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Automatic Discovery of RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties
Popis výsledku v původním jazyce
The paper describes the utilization of evolutionary algorithms for automatic discovery of benchmark circuits. The main objective of the paper is to show that relatively large and complex (benchmark) circuits can be evolved in case that only a given property (e.g. testability) is required and the function of the circuit is not considered. This principle is demonstrated on automatic discovery of benchmark circuits with predefined structural and diagnostic properties. Fitness evaluation for the proposed allgorithm is based on testability analysis with linear time complexity. During the evolution, the solutions which are refused to be synthesized by a design system are excluded from the process of developing a new generation of benchmark circuits. Theevolved circuits contain thousands of components and satisfy the required testability properties.
Název v anglickém jazyce
Automatic Discovery of RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties
Popis výsledku anglicky
The paper describes the utilization of evolutionary algorithms for automatic discovery of benchmark circuits. The main objective of the paper is to show that relatively large and complex (benchmark) circuits can be evolved in case that only a given property (e.g. testability) is required and the function of the circuit is not considered. This principle is demonstrated on automatic discovery of benchmark circuits with predefined structural and diagnostic properties. Fitness evaluation for the proposed allgorithm is based on testability analysis with linear time complexity. During the evolution, the solutions which are refused to be synthesized by a design system are excluded from the process of developing a new generation of benchmark circuits. Theevolved circuits contain thousands of components and satisfy the required testability properties.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JC - Počítačový hardware a software
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F04%2F0737" target="_blank" >GA102/04/0737: Moderní metody syntézy číslicových systémů</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proc. of the 2005 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware
ISBN
0-7695-2399-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
51-58
Název nakladatele
IEEE Computer Society Press
Místo vydání
Los Alamitos
Místo konání akce
Washington D.C.
Datum konání akce
29. 6. 2005
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—