Evolvable Hardware System at Extreme Low Temperatures

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F05%3APU56485" target="_blank" >RIV/00216305:26230/05:PU56485 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Evolvable Hardware System at Extreme Low Temperatures

Popis výsledku v původním jazyce

<p align=left>This paper describes circuit evolutionary experiments at extreme low temperatures, including the test of all system components at this extreme environment (EE). In addition to hardening-by-process and hardening by-design, &quot;hardening-by-reconfiguration&quot;, when applicable, could be used tomitigate drifts, degradation, or damage on electronic devices (chips) in EE, by using re-configurable devices and an adaptive selfreconfiguration of their circuit topology. Conventional circuit design exploits device characteristics within a certain temperature/radiation range; when that is exceeded, the circuit function degrades. On a reconfigurable device, although component parameters change in EE, a new circuit design, suitable for new parameter values, may be mapped into the reconfigurable structure to recover the initial circuit function. This paper demonstrates this technique for circuit evolution and recovery at liquid nitrogen temperatures (-196.6 °C). In addition, prelim

Název v anglickém jazyce

Evolvable Hardware System at Extreme Low Temperatures

Popis výsledku anglicky

<p align=left>This paper describes circuit evolutionary experiments at extreme low temperatures, including the test of all system components at this extreme environment (EE). In addition to hardening-by-process and hardening by-design, &quot;hardening-by-reconfiguration&quot;, when applicable, could be used tomitigate drifts, degradation, or damage on electronic devices (chips) in EE, by using re-configurable devices and an adaptive selfreconfiguration of their circuit topology. Conventional circuit design exploits device characteristics within a certain temperature/radiation range; when that is exceeded, the circuit function degrades. On a reconfigurable device, although component parameters change in EE, a new circuit design, suitable for new parameter values, may be mapped into the reconfigurable structure to recover the initial circuit function. This paper demonstrates this technique for circuit evolution and recovery at liquid nitrogen temperatures (-196.6 °C). In addition, prelim

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JC - Počítačový hardware a software

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GP102%2F03%2FP004" target="_blank" >GP102/03/P004: Metody návrhu aplikací založených na vyvíjejících se obvodech</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Evolvable Systems: From Biology to Hardware

ISBN

978-3-540-28736-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

—

Název nakladatele

Springer Verlag

Místo vydání

Berlin

Místo konání akce

Barcelona

Datum konání akce

12. 9. 2005

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—